數(shù)字電橋的性能特點

來源：深圳市新朗普電子科技有限公司 2015年10月30日 13:09

性能特點

廣泛的測量對象

半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。

其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。

介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。

液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測量能力

多參數(shù)混合顯示功能

多參數(shù)同時顯示可滿足復雜元件各種分布參數(shù)的全面觀察與評估要求，而不必反復切換測量參數(shù)。

電感L和其直流電阻DCR可以同時測量顯示，顯著提高電感測量效率。

揭示電感器件的多種特性

使用內(nèi)部/外部直流偏置，結(jié)合各種掃描測試功能，可以地分析磁性材料、電感器件的性能。

通過偏置電流疊加測試功能，可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以分析高功率、大電流電感器件。

的陶瓷電容測量

1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。

儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。

液晶單元的電容特性測量

電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。

使用擴展測量選件可提供分辨率為1%及zui高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。

半導體材料和元件的測量

進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導出來。

通過提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測量。

為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。

各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內(nèi)容。

相關(guān)產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。

聯(lián)系我們