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上海明策電子科技有限公司

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  • 2025

    07-15

    Mikron M390黑體輻射源與JJG 161-2019標準的符合性分析

    M390黑體輻射源與JJG161-2019標準的符合性分析在高溫輻射測量領域,黑體輻射源作為參考標準,對于紅外溫度傳感器、熱成像系統(tǒng)等設備的校準至關重要。為了確保黑體輻射源在實際應用中的精確性和可靠性,國家和國際上均有相應的標準進行規(guī)范。JJG161-2019《800℃~3000℃輻射測溫用參考黑體輻射源檢定規(guī)程》便是針對這一范圍內(nèi)的黑體輻射源校準的標準。而M390黑體輻射源作為一種先進的高溫黑體輻射源,其是否符合這一標準,成為了業(yè)界關注的焦點。本文將從多個維度對M390黑體輻射源與JJG161
  • 2025

    07-14

    高溫光譜發(fā)射率測量裝置在航天熱防護材料中的實驗應用研究

    高溫光譜發(fā)射率表征新裝置在航天熱防護材料中的實驗應用研究——以ISiComp®陶瓷基復合材料為例一、研究背景與目的隨著可重復使用航天器技術的發(fā)展,熱防護系統(tǒng)(ThermalProtectionSystem,TPS)材料在大氣層再入過程中的熱管理能力日益受到關注。光譜發(fā)射率(ε)作為決定材料輻射散熱能力的核心熱物性參數(shù),直接影響TPS的熱響應特性與測溫手段的精度,特別是在采用雙色輻射測溫法(Dual-colorPyrometry)等非接觸溫度監(jiān)測技術中更是關鍵變量。為應對高溫、復雜輻射環(huán)境下TPS
  • 2025

    07-14

    熱成像儀噪聲表征(NETD)測試方法及測試系統(tǒng)能力分析

    熱成像儀噪聲表征方法及Inframet測試系統(tǒng)能力分析摘要熱成像儀在軍事、安防、工業(yè)檢測和醫(yī)療等領域應用廣泛,其性能優(yōu)劣直接受噪聲水平影響。準確表征和測量噪聲參數(shù),是熱成像技術發(fā)展和產(chǎn)品比對的重要基礎。本文概述了熱成像儀主要噪聲參數(shù)的定義及測量方法,并結合最新研究,分析了Inframet公司DT測試系統(tǒng)在噪聲表征方面的能力,以及目前行業(yè)面臨的標準化挑戰(zhàn)。1.熱成像儀噪聲表征的重要性熱成像儀通過探測物體的紅外輻射生成圖像,但在成像過程中會受到多種噪聲的影響。這些噪聲不僅降低圖像質(zhì)量,還限制了系統(tǒng)對
  • 2025

    07-10

    Kleiber 840 pyrometer高速測溫儀:同軸實時測量金屬熔池溫度

    Kleiber840pyrometer高速測溫儀在實驗中的作用及實驗目標在本實驗中,Kleiber840PYROMETER高速測溫儀發(fā)揮了至關重要的作用,主要用于非接觸式測量激光粉末床熔融(L-PBF)過程中熔池的溫度,幫助研究人員監(jiān)測熔池冷卻行為,并深入了解激光熔化過程對材料微觀結構的影響。Kleiber840pyrometer高速測溫儀的作用精確測量熔池溫度:Kleiber840pyrometer高速測溫儀作為一款單色紅外測高速測溫儀,用于精確測量熔池表面的溫度。通過檢測物體表面發(fā)射的紅外輻
  • 2025

    07-09

    手持高速攝像機 vs 固定式:5大場景告訴你如何選型

    1.科研測試:動態(tài)捕捉vs穩(wěn)定記錄手持式:適用于需要多角度、靈活調(diào)整的動態(tài)測試場景。例如,在材料力學研究中,需從不同角度觀察裂紋擴展過程,手持式可快速切換拍攝位置,避免重復安裝設備。固定式:適用于需要長期穩(wěn)定記錄的場景。例如,在燃燒實驗中,固定式攝像機可安裝在防爆箱內(nèi),持續(xù)記錄火焰?zhèn)鞑ミ^程,確保數(shù)據(jù)完整性。選型建議:若實驗需頻繁調(diào)整拍攝角度或移動設備,選手持式(如MegaSpeedX6PRO);若需長時間穩(wěn)定記錄,選固定式(如MS120K)。2.工業(yè)檢測:便攜性vs高精度手持式:適用于生產(chǎn)線巡檢
  • 2025

    07-01

    激光淬火過程中 Lumasense Impac ISR 12 高溫計的關鍵作用

    激光淬火過程中LumasenseImpacISR12高溫計的關鍵作用引言激光淬火作為一種高效的表面強化工藝,在現(xiàn)代制造中扮演著重要角色。對于工程鋼材如AISI4140,通過激光快速加熱并自冷卻,能夠顯著提高表面硬度、耐磨性以及抗疲勞性能。然而,工藝過程中的多次熱循環(huán)可能引發(fā)復雜的相變動力學與殘余應力演變,其機理尚未明晰。因此,掌握在多循環(huán)激光淬火過程中的實時溫度變化,對于理解并優(yōu)化材料性能至關重要。實驗目的本研究旨在探討多循環(huán)激光淬火(multi-passlaserhardening)對AISI
  • 2025

    06-30

    黑體爐輻射能量密度(輻照度)該如何計算?

    1.黑體輻射的基本原理黑體是熱輻射領域里的理想物體:黑體吸收所有入射的電磁波,不反射,也不透過。黑體輻射的能量只跟溫度有關,跟材料、表面性質(zhì)無關。它在每個波長上的輻射強度都由物理定律嚴格描述。計算黑體輻射能量用兩大物理定律:(1)普朗克定律(Planck’sLaw)描述黑體在某一個波長λ處的輻射能量密度:其中:(T):單位波長、單位面積、單位時間的輻射功率(W/m2·μm)h:普朗克常數(shù)c:光速k:玻爾茲曼常數(shù)T:絕對溫度(K)λ:波長簡單理解:溫度越高,輻射越強;波長分布也跟溫度有關。(2)斯
  • 2025

    06-27

    M390超高溫黑體爐:為熱輻射能量測量提供基準

    M390超高溫黑體爐:為熱輻射能量測量提供基準在能源與燃燒技術領域,精準掌握火焰和煙氣中的熱輻射信息,既關乎燃燒效率,也影響污染排放與工藝安全。然而,當實驗環(huán)境進入高溫、高壓、甚至具有腐蝕性的條件時,測量輻射熱流的難度急劇上升。黑體輻射源是什么?黑體,在物理學中是一個理想化概念:能吸收所有入射的電磁輻射,不反射也不透過。所輻射出的能量由自身溫度決定,與物質(zhì)種類或表面特性無關。因此,黑體成為熱輻射測量領域的“標準基準”。M390超高溫黑體輻射源是一臺高精度的超高溫黑體爐,具備以下特性:可在600–
  • 2025

    06-23

    超高溫黑體爐為科學家們提供了不同的研究視角

    在精密測量與材料測試的世界里,溫度扮演著至關重要的角色。而當涉及到高溫度環(huán)境下的實驗和校準時,超高溫黑體爐無疑是具代表性的設備之一。它不僅為科學家們提供了溫度條件,還開啟了材料科學、光學測量等多個領域的研究視角。黑體輻射原理及其重要性超高溫黑體爐的設計基于黑體輻射的基本原理。所謂黑體,是指能夠吸收所有入射電磁波的理想物體,同時也會根據(jù)其自身的溫度發(fā)射出相應波長的輻射。通過精確控制黑體爐內(nèi)的溫度,研究人員可以模擬各種熱環(huán)境,用于輻射測量儀器的校準或是研究物質(zhì)在不同溫度下的特性變化。主要優(yōu)勢該設備能
  • 2025

    06-16

    MIKRON黑體爐為科學研究提供了溫度環(huán)境

    在現(xiàn)代科技的快速發(fā)展中,MIKRON黑體爐作為一種關鍵設備,正逐步揭開其神秘面紗。它不僅為科學研究提供了溫度環(huán)境,還在多個領域展現(xiàn)出巨大的應用潛力。MIKRON黑體爐是一種能夠產(chǎn)生高溫度并模擬理想黑體輻射特性的裝置。通常,這類設備能夠在短時間內(nèi)達到超過2000攝氏度的溫度,甚至更高。這種不同條件使得科學家能夠在實驗室中研究材料在惡劣環(huán)境下的行為、化學反應的動力學特性以及熱輻射的基本規(guī)律。1、在材料科學領域,其應用尤為重要。研究人員可以利用這一設備模擬航天器再入大氣層時的高溫環(huán)境,測試新型耐熱材料
  • 2025

    06-13

    紅外熱像儀“上崗”指南:從選型到實戰(zhàn)的避坑手冊

    一、紅外熱像儀選型階段:如何精準匹配需求?核心參數(shù)解析參數(shù)關鍵指標避坑建議分辨率像素數(shù)(如160×120、640×480)高分辨率(≥320×240)適合檢測小目標(如電路板元件),低分辨率設備易漏檢微小熱點。測溫范圍-20℃~1500℃(常見)根據(jù)場景選擇:工業(yè)設備(0~500℃)、建筑檢測(-20~100℃)、高溫窯爐(500~1500℃)。熱靈敏度(NETD)≤50mK(高精度)NETD值越低,溫差分辨能力越強(如30mK可區(qū)分0.03℃溫差),避免選>100mK的低精度設備。光譜范圍7.
  • 2025

    06-11

    2000℃高溫材料光譜發(fā)射率測量:?超高溫黑體+FTIR光譜儀

    利用能量對比法測量高溫材料發(fā)射率高溫材料在航空航天、能源轉(zhuǎn)換、紅外隱身及輻射測溫等諸多領域中發(fā)揮著關鍵作用,而精確掌握其光譜發(fā)射率是實現(xiàn)熱輻射特性評估與控制的基礎。由于材料發(fā)射率并非物質(zhì)的本征屬性,而是與溫度、波長、表面狀態(tài)等因素密切相關,因此其測量在高溫條件下尤為復雜。本文聚焦于“能量對比法”在高溫材料光譜發(fā)射率測量中的原理、系統(tǒng)實現(xiàn)及優(yōu)勢。一、能量對比法原理概述能量對比法是一種基于發(fā)射率定義的直接測量方法。具體而言,在相同的溫度、波長和視角條件下,測量待測材料與理想黑體的輻射能量,二者之比即
  • 2025

    06-04

    INFRAMET面源黑體:穩(wěn)定性達mk級,面源可定制至500mm

    在現(xiàn)代紅外成像、熱成像儀標定、醫(yī)學測溫及太空環(huán)境模擬等高精度應用場景中,黑體作為近乎理想的熱輻射源,是確保系統(tǒng)測量準確性和重復性的關鍵參考標準。Inframet公司專注于研發(fā)高技術要求下的專業(yè)級黑體產(chǎn)品,覆蓋從低溫至超高溫、多頻段、真空環(huán)境等不同應用需求。其產(chǎn)品體系具有溫控精度高、熱輻射均勻性好、光譜響應帶寬廣等顯著優(yōu)勢,廣泛服務于科研、計量、航天、醫(yī)療及工業(yè)等市場。一、黑體產(chǎn)品系列概覽Inframet提供多種規(guī)格的黑體產(chǎn)品,按其應用溫區(qū)和功能可分為以下幾類:TCB系列:熱電控低溫黑體,適用于0
  • 2025

    05-28

    ?基于X點發(fā)射率原理的2273K高溫金屬發(fā)射率測量系統(tǒng)

    基于X點發(fā)射率原理的金屬高溫輻射測量系統(tǒng)隨著先進材料、高水平制造和嚴苛熱環(huán)境應用的快速發(fā)展,傳統(tǒng)輻射測溫手段在高溫、非接觸、低誤差需求面前逐漸顯露瓶頸。為此,我們團隊自主研發(fā)了一套理論建模、電磁感應加熱、黑體爐(作為校準源)與光譜探測的高溫金屬輻射測量系統(tǒng),將X點發(fā)射率原理從理論驗證推向工程應用。一、研發(fā)背景:挑戰(zhàn)高溫紅外測溫精度極限在實際測溫過程中,金屬材料表面的發(fā)射率常隨溫度、氧化狀態(tài)及表面粗糙度發(fā)生變化,成為輻射溫度誤差的主要來源。X點發(fā)射率(X-pointemissivity)指在特定波
  • 2025

    05-27

    紅外熱像儀MRTD測試的影響因素分析與系統(tǒng)應用

    紅外成像系統(tǒng)MRTD測試的理論問題與實踐優(yōu)化——基于影響因素分析與InframetDT系統(tǒng)的應用一、引言紅外成像系統(tǒng)在軍事偵察、工業(yè)檢測及安防等領域已形成廣泛應用,其成像性能的定量評估成為系統(tǒng)研制與驗收中的關鍵環(huán)節(jié)。其中,最小可分辨溫差(MRTD)是衡量熱像儀空間分辨與熱靈敏度綜合能力的重要指標。然而,MRTD測試不僅受系統(tǒng)噪聲、調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)及顯示終端性能等因素影響,更受到采樣相位變化的顯著干擾,導致實驗數(shù)據(jù)偏離理論值。為提升測試精度與結果一致性,本文在已有理論研究的基礎上,結合Inf
  • 2025

    05-26

    IMPAC IGA 6/23光學高溫計:高溫材料制備時的非接觸真空測溫方案

    隨著先進材料科學的發(fā)展,對高溫過程的精確控制提出了更高的要求。無論是二維材料的金屬嵌入、半導體界面調(diào)控,還是新型磁性納結構的構建,高溫環(huán)境下的過程控制都是決定最終結構與性能的關鍵因素。在此背景下,IMPACIGA6/23Advanced光學高溫計,以其非接觸、高精度、響應快等特性,成為眾多科研項目及工業(yè)應用的優(yōu)選測溫設備。精準控溫,保障石墨烯多層結構制備質(zhì)量在近期發(fā)表于Nanotechnology的研究中,研究團隊在碳化硅基底上構建了石墨烯/鈷/鉑(G/Co/Pt)多層異質(zhì)結構,并對其結構、化學
  • 2025

    05-23

    impac紅外測溫儀為各種應用場景提供了理想的解決方案

    在工業(yè)自動化與質(zhì)量監(jiān)控領域,對溫度的準確監(jiān)測是確保生產(chǎn)過程順利進行和產(chǎn)品質(zhì)量達標的關鍵因素之一。impac紅外測溫儀作為一款高精度、非接觸式的溫度檢測設備,以其快速響應和可靠性能成為了眾多行業(yè)中的“溫度獵手”,為各種應用場景提供了理想的解決方案。探索紅外測溫的秘密impac紅外測溫儀的工作原理基于物體輻射出的紅外能量與其溫度之間的關系。所有溫度高于絕對零度(-273.15°C)的物體都會發(fā)射紅外線,而該儀器通過其內(nèi)置的傳感器捕捉這些紅外信號,并將其轉(zhuǎn)換成電信號,經(jīng)過處理后顯示出對應的溫度值。由于
  • 2025

    05-21

    DT 光電熱成像測試系統(tǒng):專注MRTD、NETD等性能測試

    在紅外熱成像技術廣泛應用于安防、工業(yè)檢測等領域的今天,熱像儀設備的性能評估與校準需求日益增長。上海明策電子科技有限公司攜手光電測試品牌Inframet,推出DT系列熱成像測試系統(tǒng)——一款集高精度、模塊化設計、全場景適配于一體的光電熱成像測試平臺,為熱成像設備的研發(fā)、生產(chǎn)與維護提供一站式解決方案。通過模塊化配置,DT系統(tǒng)可輕松應對MRTD(最小可分辨溫差)、NETD(噪聲等效溫差)、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))等23項關鍵參數(shù)的測量,同時完成光軸校準、偏轉(zhuǎn)角檢測、屈光度調(diào)節(jié)等復雜瞄準測試。模塊化架構:靈
  • 2025

    05-19

    impac測溫儀的應用從基礎制造業(yè)到高科技產(chǎn)業(yè)

    在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,準確監(jiān)測溫度對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化工藝流程以及保障設備安全至關重要。無論是鋼鐵冶煉、玻璃制造還是塑料加工等行業(yè),都需要一種能夠快速響應且精確測量的工具。impac測溫儀以其性能和廣泛的應用范圍,在非接觸式紅外測溫領域脫穎而出,成為眾多企業(yè)的選擇。非接觸式測量:技術革新帶來高效便捷impac測溫儀采用紅外傳感技術,能夠在不接觸被測物體的情況下迅速獲取其表面溫度信息。與傳統(tǒng)的接觸式測溫方法相比,這種非接觸式的測量方式不僅避免了因直接接觸而可能造成的污染或損壞,還大大提高了工作效率。
  • 2025

    05-16

    ?Mikron M330黑體爐:校準不同波段(UV-VIS-NIR)高溫計探測器

    MikronM330黑體爐:校準不同波段(UV-VIS-NIR)高溫計探測器在高溫非接觸測量領域中,如何確保紅外或多波長高溫計的測量精度,是設備能否穩(wěn)定應用于工業(yè)與科研的重要前提。MikronM330黑體爐作為一款性能優(yōu)秀的高溫輻射標準源,在新型光纖多波長高溫計的校準中發(fā)揮了關鍵作用,特別是在不同波段探測器響應特性的修正和精度驗證中提供了不可替代的支持。一、校準目的:建立探測器響應與輻射強度的定量關系多波長高溫計通常由多個探測器組成,用以覆蓋紫外(UV)、可見光(VIS)和近紅外(NIR)多個波
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