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上海明策電子科技有限公司

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  • 2025

    04-16

    M390超高溫黑體爐在爆炸溫度場測量實驗中的作用

    在高溫實驗和測試中,準確的溫度控制和測量是至關重要的,尤其是在爆炸溫度場等瞬態高溫環境的測量中。傳統的溫度測量方法面臨很多挑戰,例如響應速度慢或在嚴苛條件下難以提供準確的測量。為了解決這些問題,M390超高溫黑體爐在實驗中發揮了關鍵作用。我司提供的mikronM390超高溫黑體爐在爆炸溫度場測量中的重要作用,尤其是在溫度標定、精確測量和實驗驗證等方面的應用。1.溫度標定的基礎作用在任何高溫測量系統的設計中,溫度標定是確保測量準確性的重要步驟。M390超高溫黑體爐為實驗提供了已知、穩定的高溫輻射源
  • 2025

    04-15

    MS多傳感器/激光測試系統:可進行MTF、MRTD高精度測試

    MS多傳感器/激光測試系統作為上海明策電子科技有限公司提供的一款模塊化測試平臺,專為多光譜成像與激光系統設計,可測試包括熱成像儀、可見光/近紅外(VIS-NIR)相機、短波紅外(SWIR)相機、激光測距儀、指示器等設備。核心優勢:1.多傳感器兼容性:支持云臺型、俯仰型、箱式及便攜式光電系統。2.高精度測試:可測量MTF(調制傳遞函數)、MRTD(最小可分辨溫差)、激光發散角等20余項關鍵參數。3.靈活配置:通過30余個可更換模塊,適配不同測試需求,覆蓋120mm至1000mm孔徑的光學系統。測試
  • 2025

    04-14

    IMPAC高精度高溫紅外測溫儀:量程覆蓋-40-3500℃

    很多用戶都說高溫紅外測溫儀很難選,因為測溫怎么都不準確。但是小編我想說那是你沒有選到合適的。來看看小編給你介紹的幾種型號吧!第一種型號:IMPACIS140IMPACIS140,IMPACIS140-PB高溫紅外測溫儀有3種不同的調焦鏡頭可供選擇,可實現極小的光斑。測溫范圍:550-3300°C。響應時間短,小于1毫秒,另有500微秒可選,光斑尺寸極小,最小為0.35毫米。IMPACIS140是數字式、高精度測溫儀,用于非接觸式測量金屬、陶瓷、石墨等物體的溫度。IMPACIS140儀器有3種不同
  • 2025

    04-11

    電弧等離子體炬溫度測量解決方案:IMPAC MB35L紅外測溫儀

    電弧等離子體炬的溫度控制對于石墨的提純效果至關重要。電弧等離子體炬能夠產生超高的溫度,通過精準的溫度監測,可以確保石墨原料的有效處理,去除其中的雜質。為此,本文采用了IMPACMB35L紅外測溫儀對電弧等離子體炬的溫度進行了精確監測。溫度監測與控制在實驗中,電弧等離子體炬的工作電流為400A,氣體流量設定為25L/min。此時,等離子體炬的弧長最長,電弧表面的溫度逐漸升高。通過IMPACMB35L紅外測溫儀自帶的激光對焦功能,研究人員能夠精確監測電弧等離子體炬不同部位的溫度分布。從電極出口到外焰
  • 2025

    04-11

    IMPAC IGA 320/23高精度紅外測溫儀,量程覆蓋75-1800°C

    在工業生產與品質控制過程中,非接觸式溫度測量工具因其精度高、響應速度快等特點受到廣泛應用。本文將深入介紹由上海明策電子科技有限公司提供的IMPACIGA320/23短波紅外測溫儀,探討其設計特點、技術參數及典型應用。一、產品設計特點IGA320/23測溫儀采用了短波紅外技術,波長范圍集中在2至2.6微米,主波長為2.3微米。該波長特別適用于金屬、石墨及陶瓷等材料的表面溫度測量,能夠減少環境輻射干擾,提高測量精度。儀器外殼由堅固的不銹鋼制造,符合IP65防護等級標準,確保其在惡劣工業環境中依舊穩定
  • 2025

    04-10

    半球發射率測試儀D&S AD1/RD1:JG/T235-2014《建筑反射隔熱涂料》

    半球發射率測試儀AE1/RD1是美國D&S公司生產的一款專業級設備,主要用于測量材料在3-30微米紅外波段的半球發射率,符合GB/T25261-2010、JC/T1040-2007、JG/T235-2008以及JG/T235-2014《建筑反射隔熱涂料》、ASTMC1371-2015等多項國內外標準。JG/T235-2014標準適用于工業與民用建筑屋面和外墻用的隔熱涂料。根據標準定義,建筑反射隔熱涂料是以合成樹脂為基料,加入功能性顏料、填料及助劑制備而成的一種特殊涂料,涂覆在建筑外表面,具備高太
  • 2025

    04-09

    高溫光譜發射率測量中,3000℃超高溫黑體爐有何作用?

    隨著現代科學研究和工業技術的不斷發展,高溫輻射測量成為了材料科學、光譜學以及熱物理學等領域的重要工具。在這一過程中,黑體輻射源的應用至關重要。MIKRONM390,作為一款高精度的黑體輻射源,憑借其廣泛的波長響應、高溫適應性和精準的溫度控制,已經成為許多科研項目和工業應用中的設備。本文將深入探討MIKRONM390在高溫輻射測量中的創新應用,展示其在不同領域中的強大功能。1.高溫材料的輻射率測量在材料科學中,準確測量高溫材料的輻射率是研究其熱性能的重要環節。MIKRONM390作為黑體輻射源,可
  • 2025

    04-08

    Impac IPE 140 紅外測溫儀:高精度紅外高溫計

    在現代工業生產中,精確的溫度測量對于保證產品質量、提高生產效率和保障安全至關重要。尤其在高溫環境下,選擇一款可靠的高溫計至關重要。ImpacIPE140紅外測溫儀是一款數字化的高溫測量設備,它憑借其出色的性能和多項先進技術,成為軌道交通、金屬加工、陶瓷、石墨等行業的理想選擇。高精度數字高溫測量ImpacIPE140紅外測溫儀采用全數字化設計,提供高的測量精度,適用于各種復雜的工業環境。其精密的可聚焦光學元件,使得該設備能夠在極小的光斑尺寸下實現高精度的溫度測量。通過內置的數字顯示屏,操作人員能夠
  • 2025

    04-07

    航空航天領域電子束增材制造 (EBAM) 溫度場測量與監測

    引言隨著增材制造技術(AdditiveManufacturing,AM)在航空航天等高科技領域的廣泛應用,精確的溫度控制成為了確保零件質量和生產效率的關鍵因素。在NASA馬歇爾太空飛行中心(MSFC)進行的電子束增材制造(EBAM)過程中,精確的溫度測量是至關重要的,因為這直接影響到構建材料的物理性質和最終產品的性能。為了實現高精度的溫度監控,采用了LumaSenseMCS640近紅外熱像儀,結合先進的鏡頭配置,通過S12EBAM系統進行溫度數據的實時采集。設備與系統配置EBAM系統是一款用于金
  • 2025

    04-03

    高溫狀態下材料法向發射率測量裝置的研發與應用

    摘要隨著高超聲速飛行器、航天發動機等技術的發展,材料在高溫環境下的紅外輻射特性成為熱防護設計與性能評估的關鍵參數。本文介紹了一種新型高溫材料法向光譜發射率測量裝置,其溫度范圍覆蓋1273K~3100K(1000℃~2827℃),突破了傳統設備在中低溫段的限制,為超高溫材料的研發與應用提供了重要技術支撐。一、高溫發射率測量的技術挑戰與需求材料發射率是表征其表面紅外輻射能力的核心參數,直接影響飛行器蒙皮的紅外隱身性能、發動機熱端部件的散熱效率等。現有測量裝置(如西安應用光學研究所的1000℃系統)多
  • 2025

    04-02

    Mikron M335黑體輻射源:為科研提供高溫輻射解決方案

    在科研和實驗室應用中,高精度的溫度控制和快速加熱能力對于實驗的成功至關重要。MikronM335黑體爐是Lumasense公司推出的一款高溫黑體爐,溫度范圍300-1500℃,專為提供可靠高溫校準解決方案而設計。該設備在溫度控制、加熱速度和緊湊設計方面具有顯著優勢,是眾多科研機構和實驗室的理想選擇。在中國,上海明策電子是MikronM335黑體爐的總代理,致力于為國內科研和實驗室提供優質的產品支持和技術服務。快速加熱:MikronM335黑體爐具備較短的加熱時間,能夠在30分鐘內將溫度從環境溫度
  • 2025

    03-31

    在測量高溫動態加熱材料的發射率時,黑體爐有什么作用?

    上一期介紹了高溫動態加熱條件下材料輻射率的測量,方案中,涉及到上海明策電子科技提供的MIKRONM390黑體爐,那么它在方案中起到了哪些至關重要的作用呢?其主要作用如下:1.提供穩定的輻射源黑體爐是一種用于產生已知溫度下穩定輻射的設備。在測量材料輻射率時,黑體爐提供了一個理想的參考輻射源。通過與黑體爐進行輻射比對,可以計算出樣品的輻射率。黑體爐的輻射源具有理想的黑體輻射特性,即它能夠在特定溫度下發出吸收并輻射的熱能,輻射率為1.0(在其特定的波長范圍內)。這種特性使得黑體爐成為輻射率測量中的標準
  • 2025

    03-28

    Mikron M390超高溫黑體爐——300-3000℃溫段長期穩定性±0.5℃

    Mikron®M390超高溫黑體爐是上海明策電子科技提供的一款專為精確溫度校準設計的黑體設備,能夠模擬高溫環境,并保證在300℃至3000℃的溫度范圍內提供穩定的溫度控制。該設備適用于紅外溫度計、熱成像系統、光學熱輻射計及其他高能量光子發生器的溫度校準。技術亮點廣泛的溫度范圍:Mikron®M390的溫度范圍從600℃到3000℃,可以滿足多種行業對高溫校準的需求。無論是高溫測試還是精密測量,該設備都能提供可靠的溫度控制。穩定的溫度控制:該設備在600℃至3000℃的溫度范圍內具有±0.5℃的穩
  • 2025

    03-27

    如何選擇適合您生產線的工業固定式高速攝像機

    選擇適合您生產線的工業固定式高速攝像機時,需要綜合考慮多個因素,以確保所選攝像機能夠滿足特定的應用需求。以下是一些關鍵的考慮因素和選擇建議:一、幀率幀率是衡量高速攝像機性能的重要指標,它決定了攝像機每秒能夠捕捉的畫面數量。對于需要捕捉快速運動物體的生產線,高幀率至關重要。例如,在高速灌裝生產線監測液位或汽車零部件高速沖壓成型檢測中,需要攝像機具備高幀率捕捉能力,以避免運動模糊造成誤判。因此,在選擇時,應根據生產線的實際需求來確定所需的幀率。二、分辨率分辨率直接影響到圖像的清晰度,是評估攝像機性能
  • 2025

    03-27

    Mikron 黑體爐_黑體輻射源_高溫黑體爐_3000℃超高溫黑體爐

    Mikron系列提供了多種適用于不同溫度范圍的黑體輻射源,確保您可以在各種應用場景中獲得高精度的輻射測量。以下是根據不同溫度段對各款產品的分類和詳細介紹:1.低溫黑體輻射源(溫度范圍:環境溫度至150°C)適用于低溫和環境溫度下的輻射校準,特別適合熱電偶和紅外溫度計的校準。MIKRONM310-HT溫度范圍:環境+5°C到450°C精度:±0.25%的讀數±1°C穩定性:0.5°C每8小時特點:便攜式設計,適合實驗室和現場使用,溫度控制精度高,數字顯示PID控制器。MIKRONM340黑體輻射源
  • 2025

    03-26

    高溫動態加熱材料輻射率測量:傅里葉紅外FTIR光譜儀、黑體爐

    本文提出了一種新型的高溫動態加熱條件下材料輻射率的同時測量技術,并重點介紹了測試方法和實驗設備,特別是我們公司提供的黑體爐設備,在實驗中的重要作用。1.測試方法概述輻射率是衡量材料熱輻射能力的重要參數,是材料發射的輻射能量與理想黑體在相同溫度下發射的輻射能量之比。傳統的輻射率測量方法大多應用于靜態加熱條件下,但在飛行器的動態熱負荷條件下,這種方法往往無法滿足高精度測量的要求。因此,本文提出了一種基于傅里葉變換紅外(FTIR)光譜儀的同步測量技術,用于高溫動態加熱條件下同時測量材料的輻射率和表面溫
  • 2025

    03-25

    Impac IGA 6 Advanced 紅外測溫儀:高精度非接觸式高溫測溫方案

    ImpacIGA6Advanced紅外測溫儀是一款專為高溫測量設計的先進紅外設備,廣泛應用于金屬、陶瓷、石墨等材料的非接觸式溫度測量。這款高溫計的設計旨在滿足工業環境中對快速、準確的溫度檢測需求,特別適合處理動態和快速變化的過程。主要特點堅固耐用設計IGA6Advanced采用不銹鋼傳感器,具備IP65/NEMA4防護等級,能夠在惡劣的工業環境中穩定工作。無論是高溫還是其他嚴苛條件,都能確保測量儀器的可靠性和耐用性。精準的測量范圍該系列設備提供的測溫范圍可從250°C延伸至2500°C,滿足多種
  • 2025

    03-24

    紅外熱像儀MTF測試是什么?該使用什么設備測試?

    什么是MTF測試?MTF是評估光學系統性能的標準方法,主要用于衡量光學系統傳遞不同空間頻率信息的能力。MTF(modulationtransferfunction):MTF結合了分辨率和對比度兩種指標,表示了成像系統將分辨率轉換為對比度的能力。什么意思呢,隨著圖像分辨率的升高,對比度會下降,(如下圖,與上圖對比,1mm的距離內線對更多,因此成像系統造成的模糊帶來的影響也更嚴重,對比度會比上圖更差),MTF表示了成像系統在分辨率升高的情況下保證對比度的能力。在熱像儀的應用中,MTF測試用于評價熱像
  • 2025

    03-24

    正確使用是火焰測溫儀在實際工作中取得可靠測量結果的基礎

    火焰測溫儀基于紅外輻射原理進行溫度測量,通過接收火焰發出的紅外輻射能量,并利用算法計算出火焰的溫度。該儀器具有非接觸式測溫的特點,無需直接接觸火焰,有效避免了高溫環境對儀器的損壞,同時也不會對燃燒過程產生干擾。為了確保火焰測溫儀測量結果的準確性及安全使用,遵循正確的操作步驟至關重要。1、準備工作在開始測量之前,先確認儀器是否處于良好狀態,包括檢查電池電量是否充足、鏡頭是否清潔無損等。閱讀產品說明書以熟悉該型號的操作流程和注意事項,并根據待測目標選擇合適的測溫范圍和響應波長。2、校準儀器許多型號支
  • 2025

    03-20

    UMET 太陽盲紫外相機測試系統:太陽盲紫外(SBUV)相機性能測試

    UMET太陽盲紫外相機測試系統是一款先進的光學檢測設備,專門用于評估太陽盲紫外(SBUV)相機的性能。這類相機專門探測波長范圍在240nm到280nm的紫外光,具有260nm的峰值敏感度,廣泛應用于電暈現象檢測等特殊場景。傳統的SBUV相機靈敏度測試通常采用高溫黑體方法,這種方式會受限于測試條件的影響,結果可能存在較大的誤差,甚至偏向對太陽光敏感(波長超過280nm)的相機。UMET系統的誕生,成功解決了這一問題。UMET系統采用260nm單色光源和可見光兩種波段進行測試,尤其是精準使用與相機峰
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