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hisomet 高精度非接觸深度測量顯微鏡

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 克拉克中國
  • 品牌
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2015/12/2 21:03:36
  • 訪問次數 464

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


克拉克(中國)有限公司從事可靠性測試設備的銷售和測試服務。    

一、金屬鑄件,巖石,橡膠輪胎等檢測: 工業CT,X射線實時成像系統,X光機,透視機。( 工業CT高精度計算機斷層掃描系統鑄件密度分割容積計算空間分布 )

二、激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬.

三、 耗材: 磁粉探傷,滲透探傷        

     磁粉探傷:磁粉對導磁材料鋼,鐵,鈷,鎳等,材料表面微小裂紋的檢測。 如,發動機,軸承,鋼管的表面裂紋的快速檢測。滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,進行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴展到表面。這時,在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發出明亮的熒光。 著色法與熒光法相似,只是滲透液內不含熒光物質,而含著色染料,使滲透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。


過程補償聲共振測試系統-在線無損檢測工件結構缺陷

    它是一種工藝過程補償的聲共振檢測系統 使用給定的頻率振動工件并記錄工件的響應情況. 將工件的共振狀態與存儲的數據(圖形)進行比較 VIPR軟件將對所存儲的樣品組的每一只工件樣品的共振記錄進行分析,來確定可以準確區分良品和不良品的樣式,從而建立分選模塊。.自動判定工件的好壞..  PCRI檢測缺陷的類型: 常見缺陷----所有工藝裂縫, 夾渣, 化學物質, 性能缺失, ,充填不足, 尺寸差異PCRI檢測工藝加工而成的缺陷類型鑄鋁: 氧化物; 冷疤;收縮孔隙;吹砂孔;延伸度(距角).鑄鐵: 氧化物; 冷疊邊;收縮孔隙;球化率;t熱處理; 碳化物.粉末冶金:氧化物;齒缺陷;多孔性;燒結;模壓缺陷; 脫碳.鍛造:  端料工件; 重復鍛壓;疊壓工件; 淬火;材質差異.

   

四、 環境可靠性試驗   工業冷熱沖擊箱、工業烤箱、恒溫恒濕實驗箱、溫濕度循環實驗箱、工業壓力鍋蒸煮實驗箱


五、電子行業的失效分析設備銷售及測試服務

芯片分析手段匯總(微焦點xray,SAT;DECAP)

芯片分析手段有:

     1   SAT(超聲掃描),無損檢查:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

     2   微焦點XRay  用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷

   XRAY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現為短路。X射線分析也評估氣泡的產生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到. ), 德國Feinfocus

     3  日本UNION HISOMET 測量工具顯微鏡   測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于2微米.

     4  BGA LED推拉力測試儀 焊接強度測試儀 采用了AUTO-RANGE技術和VPM垂直定位技術,測試傳感器采用自動量程設計,分辨率高達0.0001克.

激光測振儀,芯片推拉力測試儀,HISOMET,納米CT,滲透探傷

日本 Union hisomet DH2高精度非接觸深度測量顯微鏡
采用光學和非接觸方法探測焦距的方法,測量不會給樣品造成變形或劃痕等影響,這些往往是采用物理性接觸測量時產生的。基于目標分光方法原理的精密聚焦指示器的應用,以簡單地把兩個目標標志部分重合起來進行高精度的測量..


Union DH2 高精度自動深度測量顯微鏡
DH2 是、深度測量系統。集成了高精度的圖像自動聚焦,高精 密的脈沖移動平臺和HISOMET-II (DH2)的光學系統。
◎ 高精度的圖像自動聚焦系統的測量結果和精確度是很可靠的,沒有人為的因素。
◎ 通過電腦控制,可以完成多點的自動連續測量,高級的資料處理軟體可以*的提高測量時間。

功能:
非接觸測量微細的撞擊、臺階等。
◎ 通過高精度的光學聚焦點檢測和精確的聚 焦指示器完成高精確的測量
◎ 簡單的操作
◎ Z軸測量行程可從幾個到25mm
◎ 同時還可以完成測量點的表面觀察

觀 測 頭: 三目
Z軸測量范圍: 0.1μm 讀數,25mm 行程
Z軸測量精度: 3σ=1μm (40×)
光學鏡身: 精確的自動聚焦單元
物 鏡: 5× - 100×
測量軟體: 4種模式
資料處理軟體: 顯示zui大值,zui小值,平均值,標準偏差值等
測量平臺200*100mm 

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