SZ-100V2 HORIBA 納米顆粒分析儀
- 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場(chǎng)
- 型號(hào) SZ-100V2
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/6/4 14:46:54
- 訪問(wèn)次數(shù) 323
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主動(dòng)式減震臺(tái),Profilm3D光學(xué)輪廓儀,Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x,薄膜厚度測(cè)量?jī)x,粗糙度測(cè)量,輪廓測(cè)量，橢偏儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,紡織/印染 |
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HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品介紹：
一臺(tái)簡(jiǎn)潔小巧的裝置能同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)納米粒子三項(xiàng)參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。
納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過(guò)程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、優(yōu)良的材料和產(chǎn)品。為了得到效率高性能好的產(chǎn)品，并減少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可對(duì)納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析！以技術(shù)簡(jiǎn)單而精確地呈現(xiàn)納米粒子尺寸及分散體系的穩(wěn)定性，為您開(kāi)啟納米科技前進(jìn)之門(mén)！
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
粒徑測(cè)量范圍 0.3nm ~ 10μm
SZ-100V2系列采用動(dòng)態(tài)光散射原理(DLS)測(cè)量粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測(cè)量，不論濃度是ppm級(jí)還是高達(dá)百分之幾十，均可準(zhǔn)確測(cè)量。可使用市售樣品池。測(cè)量微量樣品也極為方便。
Zeta電位測(cè)量范圍 ?500 ~ +500mV
使用HORIBA的微量樣品池，樣品量?jī)H需100 μL。通過(guò)Zeta電位值可以預(yù)測(cè)及控制分散體系的穩(wěn)定性。Zeta電位越高意味著分散體系越穩(wěn)定，對(duì)于配方研究工作意義重大。
分子測(cè)量范圍 1×103 ~ 2×107
通過(guò)測(cè)量不同濃度樣品的靜態(tài)散射強(qiáng)度并通過(guò)德拜記點(diǎn)法計(jì)算絕對(duì)分子質(zhì)量(Mw)和第二維利系數(shù)(A2)。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析超高的智能化和學(xué)習(xí)能力可以快速為您確定納米粒子的特性！
SZ-100V2系列可測(cè)量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行稀釋和其他處理。雙光路系統(tǒng)(90°和173°)設(shè)計(jì)，既能對(duì)高濃度樣品進(jìn)行測(cè)量，如釉漿和顏料，也能測(cè)量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)和聚合物。
將表征納米粒子的三大參數(shù)的測(cè)量融于一體：粒子直徑、Zeta電位和分子量。
HORIBA開(kāi)發(fā)的一次性Zeta電位測(cè)量樣品池可杜絕樣品污染。專用超微量樣品池(最小容量100 μL)簡(jiǎn)單易用，且適合分析稀釋的樣品。
HORIBA研發(fā)的Zeta電位專用石墨電極，可用于測(cè)量強(qiáng)腐蝕性的高鹽樣品。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀測(cè)量原理：
粒徑測(cè)量原理
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑，通過(guò)測(cè)量粒子的散射光強(qiáng)度隨時(shí)間的波動(dòng)。納米粒子的布朗運(yùn)動(dòng)引起光強(qiáng)的波動(dòng)，對(duì)其進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析可與粒子的擴(kuò)散相聯(lián)系。由于布朗運(yùn)動(dòng)的激烈程度與粒徑大小顯著相關(guān)，從而可以建立粒徑與散射光強(qiáng)度波動(dòng)的關(guān)系。
Zeta電位測(cè)量原理（激光多普勒電泳法）
處于懸浮液中的納米粒子和膠體粒子大多表面帶有電荷。當(dāng)電場(chǎng)作用于液體時(shí)，帶電粒子將會(huì)在電場(chǎng)的影響下運(yùn)動(dòng)。運(yùn)動(dòng)的方向及速度與粒子的帶電量、分散介質(zhì)和電場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。通過(guò)觀察散射光的多普勒頻移從而測(cè)量粒子的運(yùn)動(dòng)速度。粒子的運(yùn)動(dòng)速度與粒子剪切面上的電位( 即Zeta 電位) 成正比，因此可以通過(guò)測(cè)量粒子在電場(chǎng)作用下的運(yùn)動(dòng)而得到粒子的Zeta 電位。
分子量測(cè)量原理
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀采用兩種方法來(lái)測(cè)量大分子如聚合物、蛋白質(zhì)和淀粉等的分子量。第一種方法采用動(dòng)態(tài)光散射得到的粒徑信息和Mark Houwink 方程。第二種方法是德拜記點(diǎn)法。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀主要應(yīng)用：
半導(dǎo)體： | CMP漿料 |
功能納米材料： | 碳納米管 |
優(yōu)良碳材料 | |
納米纖維素 | |
顏料、油墨： | 顏料、燃料 |
墨粉懸浮液 | |
能源： | 電池材料 |
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀附件選項(xiàng)：
樣品池
一次性樣品池 | 半微量池 | 玻璃池 | 一次性半微量池 | 樣品池（帶蓋） |
微量池（僅側(cè)面檢測(cè)） | 亞微量池 | 流動(dòng)池 | Zeta電位塑料池 | Zeta電位玻璃池 |
自動(dòng)滴定儀
可以用于Zeta電位或粒徑測(cè)量過(guò)程中的pH值的自動(dòng)滴定，是等電點(diǎn)測(cè)量的理想選擇。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品參數(shù)：
測(cè)量原理 | 粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法 分子量測(cè)量原理：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)光散射法） |
測(cè)量范圍 | 粒徑：0.3nm到10µm 分子量： 1000到2 x 107 Da（德拜記點(diǎn)法） 540 到 2 x 107 Da（MHS 公式） |
最大樣品濃度 | 40 wt% |
測(cè)量角度 | 90°和173° |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀測(cè)量案例：
生物材料：膠體金顆粒粒徑測(cè)量結(jié)果
膠體金（NIST） | RM8011 | RM8012 | RM8013 |
公稱直徑（nm） | 10 | 30 | 60 |
DLS法測(cè)量得到的NIST直徑（nm） | 13.5 | 26.5 | 55.3 |
SZ-100測(cè)量得到的直徑（nm） | 11.0 | 26.6 | 55.4 |
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