KLA 表面光學輪廓儀 參考價：面議
KLA Zeta-388光學輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測量系統。該系統在Zeta-300光學輪廓儀的基礎上，增加了用于全自動測量的機械手臂操作系統。Zeta-...
KLA光學輪廓儀 參考價：面議
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術與相位干涉(PSI)技術。以較低的價格...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價：面議
KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結構進行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反...
KURATECA 桌上型主動式隔振臺 參考價：面議
KURATECA EST-58-450 桌上型主動式減震臺來自日本馬自達集團下全資子公司KURATECA，是一塊靈活易用的桌上型主動隔振臺，通過針對低頻振動進行...
Unicorn優尼康 低頻主動式消磁器 參考價：面議
UNICORN α500 低頻消磁系統（EMICancelingSystem，又稱消磁器），DC與AC雙模式主動消磁器，采用高精度純直流測量/反饋/控制電路，適...
3D白光干涉輪廓儀 參考價：面議
3D白光干涉輪廓儀是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術與相位干涉(PSI)技術。以較低的價格實現次納米...
Filmetrics薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM ...
Filmetircs光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetircs光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。
KURATECA 被動式減震臺 參考價：面議
KURATECA HS華山系列被動式減震臺采用：半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面（同OTP臺面）的氣浮隔振光學平臺，整體高度800mm，分為氣浮式...
KURATECA 主動式防震臺 參考價：面議
KURATECA LS-1200 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-1200 在LS-8...
KURATECA 主動式防震臺 參考價：面議
KURATECA LS-800 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-800 主動式防震臺通...
KURATECA 主動式防震臺 參考價：面議
KURATECA LS-400 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-400 主動式防震臺廣...
KURATECA 桌上型主動式隔振臺 參考價：面議
KURATECA MINI 系列桌上型主動式隔振臺來自日本馬自達集團下全資子公司KURATECA，是一款靈活易用的桌上型主動隔振臺，通過針對低頻振動進行準確補償...
KURATECA 主動式防震系統 參考價：面議
KURATECA EST-L 主動式防震臺來自日本馬自達集團下全資子公司KURATECA，有著超過30年歷史，且在這個領域上有著相當豐富的經驗。一些靈敏度很高的...
Nanosurf 真空環境用原子力顯微鏡 參考價：面議
Nanosurf AFSEM 真空環境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯合兩種功能強大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...
Nanosurf 自動力譜成像原子力顯微鏡 參考價：面議
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學分析的自動化解決方案。它旨在以直觀和自動化的方式通過力譜和力圖研究多種或大...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術的優點是直接測量，與材料特性無關。多...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學杠桿傳感器技術提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術的優點是直接測量，與材料特性無關。...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。它保持了P-17技...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產品。該系統具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內實現高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區域。KL...
KLA 全自動探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA P-170 全自動探針式表面輪廓儀一款盒對盒型臺階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺式系統測量性能和HRP260系統經生產驗證的處理程序。該...
Film Sense 多波長橢偏儀 參考價：面議
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1...
Filmetrics 自動光反射膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產環境的功能。這些功...
Filmetrics 單點光學膜厚測量儀 參考價：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，...
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