鍍金鍍層測厚儀無損檢測
參考價 | ¥ 169000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 深圳市天創美科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/8/12 10:02:15
- 訪問次數 76
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應用領域 | 環保,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,綜合 |
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鍍金鍍層測厚儀無損檢測
鍍金鍍層厚度測厚儀:精準無損檢測的理想之選
在眾多對鍍金產品質量要求嚴苛的行業,如電子元器件制造、珠寶首飾加工以及五金制品生產等領域,鍍金鍍層厚度的精準測量至關重要。鍍金鍍層厚度測厚儀作為一款專業的無損檢測設備,憑借其好的性能,成為保障產品品質的關鍵工具。
先進檢測原理,確保無損精準
該測厚儀采用多種先進的無損檢測技術,常見的如 X 射線熒光光譜法與渦流檢測法。X 射線熒光光譜法基于 X 射線激發鍍層元素產生特征熒光,通過分析熒光強度來精確計算鍍層厚度,整個過程無需接觸樣品,不會對鍍金層造成任何損傷。渦流檢測法則利用電磁感應原理,當交變電流通過線圈時,在鍍金工件表面產生渦流,鍍層厚度的變化會改變渦流分布,進而影響線圈的阻抗,通過測量阻抗變化即可準確得出鍍層厚度,同樣實現了無損檢測。
操作便捷高效,適應多樣需求
設備設計充分考慮用戶使用體驗,操作界面簡潔直觀,即使是非專業人員也能快速上手。它具備一鍵測量功能,只需將測厚儀探頭輕觸鍍金表面,短時間內即可顯示精確的厚度數值。同時,該設備測量范圍廣泛,可適應不同厚度規格的鍍金層檢測,無論是微米級的超薄鍍層,還是較厚的鍍金層,都能提供可靠測量結果。而且,對于各種形狀的鍍金工件,如平面、曲面、圓柱面等,都能輕松應對,滿足不同行業多樣化的檢測需求。
數據精準可靠,助力品質管控
鍍金鍍層厚度測厚儀具備高精度的測量性能,測量誤差極小,能為產品質量控制提供準確的數據支持。在生產過程中,通過對鍍層厚度的實時監測,企業可以及時調整生產工藝參數,確保鍍金產品厚度均勻一致,符合質量標準要求。這不僅有助于提高產品的性能和可靠性,還能減少因鍍層厚度不合格導致的次品率,降低生產成本,提升企業的市場競爭力。
鍍金鍍層厚度測厚儀以其先進的檢測原理、便捷的操作方式和精準可靠的測量數據,成為各行業鍍金產品無損檢測的理想選擇,為保障產品質量發揮著好的作用。
以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹:
鍍層檢測:
常見金屬鍍層有:
鍍層
基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內,
可最小測量達0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數為1-6層
鍍層精度相對差值一般<5%。
鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。
金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
檢測精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達1ppm。
對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:
A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
測量精度:
1)精度(單層):
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)
2)兩層及以上:
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果,但是第二層以上比較復雜,要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。
在 一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。
重復性:
保證重復性值:≤±5%
重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續重復檢測,連續測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。
重復性=平均誤差÷平均值×100* %.
報告打印:
可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便
安全使用,維護與保養
由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。
儀器安裝一定要平穩,儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩情況要配備穩壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。
請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。
進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
儀器環境要求:儀器使用環境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度≤80%,電源:AC: 220V ±5V。
以上細節均有可能造成無法預測后果,買方應予以基本遵守。
鍍金鍍層測厚儀無損檢測