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表面鍍層測厚儀無損檢測

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    深圳市天創美科技有限公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。






能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

應用領域 環保,建材/家具,鋼鐵/金屬,電氣,綜合

表面鍍層測厚儀無損檢測

表面電鍍鍍層測厚儀——無損檢測領域的精密利器

在電鍍加工、材料科學及質量控制等諸多領域,精確測量表面電鍍鍍層厚度是確保產品質量、性能穩定的關鍵環節。表面電鍍鍍層測厚儀作為一種先進的無損檢測設備,正發揮著日益重要的作用。

核心原理與技術優勢

表面電鍍鍍層測厚儀主要基于多種物理原理進行厚度測量,常見的有磁性法、渦流法、β射線反向散射法及X射線熒光法等。磁性法適用于測量鐵磁性基體上的非磁性鍍層,如鋼鐵上的鋅、銅鍍層,通過測量磁路中磁阻的變化來推算鍍層厚度;渦流法則用于非磁性金屬基體上的非導電鍍層,像鋁上的油漆、塑料鍍層,利用電磁感應原理產生渦流,根據渦流變化確定厚度。這些方法均無需破壞被測物體,實現了真正的無損檢測。

性能與便捷操作

該測厚儀具備高精度、高分辨率的特點,能夠精確到微米級別,滿足各類嚴苛的檢測需求。其測量速度快,可在短時間內完成大量樣本的檢測,大幅提升工作效率。設備設計緊湊,便于攜帶至不同檢測現場,無論是生產線上的實時監測,還是實驗室的精密分析,都能輕松應對。操作界面簡潔直觀,配備大屏幕彩色顯示屏,即使非專業人員也能快速上手,輕松獲取準確數據。

廣泛應用領域

在電鍍行業,測厚儀可幫助企業嚴格控制鍍層厚度,確保產品符合質量標準,避免因鍍層過厚或過薄導致的性能下降、成本增加等問題。在汽車制造領域,用于檢測車身零部件的防腐鍍層厚度,保障車輛的耐久性和安全性。在航空航天、電子電器等行業,同樣憑借其精準測量能力,為產品質量保駕護航。

表面電鍍鍍層測厚儀以其先進的無損檢測技術、的性能表現和廣泛的應用領域,成為現代工業生產中的質量檢測工具。它不僅助力企業提升產品質量,降低成本,還推動了相關行業向更高標準、更精細化方向發展。

以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹

鍍層檢測:

常見金屬鍍層有:

 鍍層

 

基體

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

 

單層厚度范圍:

金鍍層0-8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內,

可最小測量達0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%。

鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm

單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)

 Ni層厚度(um)

保證精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

元素成分分析:

鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。

金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。

檢測精度:

Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達1ppm。

對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:

A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1)精度(單層):

                              測厚儀的檢測精度表

Ni層厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

    測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)

2)兩層及以上:

  兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果,但是第二層以上比較復雜,要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。

    一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。

重復性:

保證重復性值:±5%

    重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續重復檢測,連續測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。

重復性=平均誤差÷平均值×100%.

報告打印:

可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便

安全使用,維護與保養

由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。

儀器安裝一定要平穩,儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩情況要配備穩壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。

請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。

進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。

儀器環境要求:儀器使用環境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度80%,電源:AC: 220V ±5V。

以上細節均有可能造成無法預測后果,買方應予以基本遵守。


表面鍍層測厚儀無損檢測



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