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邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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SM230 自動光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀
SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀。
SM230自動光學(xué)薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺。
1.產(chǎn)品特點：
·非接觸式、非破壞性的測試系統(tǒng)；
·超長壽命光源，更高的發(fā)光效率；
·高分辨率、高靈敏度光譜儀，測繪結(jié)果更準(zhǔn)確可靠;
·軟件界面直觀，操作方便省時；
·測繪速度快，支持多點測繪點位地圖繪制;
·支持繪制樣品2D/3D厚度分布圖；
·高精度、長壽命的3軸旋轉(zhuǎn)平臺；
·歷史數(shù)據(jù)存儲，幫助用戶更好掌握結(jié)果;
·桌面式分布設(shè)計，適用場景豐富;
2.應(yīng)用領(lǐng)域：
·半導(dǎo)體鍍膜 ·光學(xué)鍍膜 ·液晶顯示
·微電子系統(tǒng) ·生物醫(yī)學(xué)
3. 選型與規(guī)格參數(shù)：
光學(xué)膜厚儀通過測量薄膜的光學(xué)性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線穿過薄膜時，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。
光學(xué)膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學(xué)鍍膜、涂層、光學(xué)薄膜等。通過光學(xué)膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、材料等領(lǐng)域。
