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邁可諾技術有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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聯(lián)系電話
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SM120 立式反射率測試儀
在太陽能電池制造領域，獲得太陽能硅片的反射率對生產(chǎn)的控制及研究有著極其重要的意義，但由于絨面的特殊表面，使得測量其反射率變得十分困難。
我們根據(jù)ISO7724和DIN5033標準結合多年光譜儀器研發(fā)經(jīng)驗全新推出全自動八度角積分式反射儀SM120正是針對這一問題的解決方案，SM120立式反射率測試儀應用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質量品質把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。
1.產(chǎn)品特點：
·全自動電腦控制，自動校準，快速準確測量;
·支持全自動二維掃描(Mapping);
·自動計算多點平均反射率;
·超長壽命光源;
·結構設計合理，操作簡單，維護方便;
·保障設備穩(wěn)定運行而無需經(jīng)常校準。
2.應用領域：
·半導體鍍膜 ·光學鍍膜 ·液晶顯示
·微電子系統(tǒng) ·生物醫(yī)學
3. 選型與規(guī)格參數(shù)：
光學膜厚儀通過測量薄膜的光學性質來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當光線穿過薄膜時，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。
光學膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學鍍膜、涂層、光學薄膜等。通過光學膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應用于光學、電子、材料等領域。
