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邁可諾技術有限公司

主營產品: 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機

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www.mycro.net.cn
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http://www.mcstair.com/st119375/
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[供應]KemLab 正性光刻膠
KemLab 正性光刻膠
貨物所在地:
湖北武漢市
產地:
美國
更新時間:
2025-06-12 11:57:49
有效期:
2025年6月12日--2026年6月12日
已獲點擊:
32
【簡單介紹】KemLab 正性光刻膠 KLT 6000 ,適用于 i-Line、寬帶或 g-Line 曝光。
【詳細說明】

 

KemLab 正性光刻膠 KLT 6000

描述: KLT 6000 是一款適用于 i-Line、g-Line 和寬帶應用的正性光刻膠。KLT 6000 具有高靈敏度、高通量和優異的工藝寬容度。

  • 單次涂布覆蓋 2.5-12 微米厚度

  • 設計用于行業標準的 0.26 N TMAH 顯影液

  • ● 無需后烘 (PEB)

  • ● 可提供定制配方

基板 (Substrate)

KLT6000 可粘附于多種基板,包括金、玻璃、鋁、鉻和銅。建議使用 HMDS(六甲基二硅氮烷)底涂劑。HMDS 底涂劑將增強 KLT6000 對大多數基板的附著力。

旋涂 (Spin Coat)

目標膜厚使用右圖所示的旋涂速度曲線確定。涂布程序包括 5-10 秒的鋪展循環;較厚膜層使用較長時間。最終轉速下的旋涂時間為 45 秒。旋涂曲線使用 6 英寸硅片和靜態點膠約 4 ml KLT6000 光刻膠測定。

對于 KLT6000 及大多數其他低于 10 微米的正性光刻膠,微調膜厚的公式如下:

新旋涂速度 = 原旋涂速度 × (實測膜厚 / 目標膜厚)2

前烘 (Soft Bake)

推薦的烘板前烘溫度為 。典型烘烤時間為 120 秒;更長的烘烤時間有助于去除較厚膜層中的澆鑄溶劑。

曝光與光學參數 (Exposure & Optical Parameters)

KLT 6000 適用于 i-Line、寬帶或 g-Line 曝光。


后烘 (Post-Exposure Bake, PEB)

對于大多數應用,無需進行后烘 (PEB)。

如果特定工藝需要 PEB,請在接觸式烘板上以 90°C 烘烤 90 秒。

顯影 (Develop)

KLT6000 設計用于 0.26N TMAH 顯影液。可采用浸沒式、浸沒或噴霧-浸沒方式顯影。較厚的膜層在顯影步驟中更新顯影液會受益,例如采用雙重浸沒。

詳情請見工藝指南表。

蝕刻阻擋 (Etch Resist)

濕法化學蝕刻液(用于金、銅、鉻、鋁等)不會降解 KLT6000 制作的圖形。

光刻膠去除 (Photoresist Removal)

KLT6000 可使用行業標準去膠劑(如 NMP、DMSO 等)在 50-80°C 下去除。

較厚的膜層可采用雙槽工藝去除:第一個槽去除大部分光刻膠,第二個槽清潔干凈。

儲存 (Storage)

請將產品直立存放在密閉容器中,儲存于 40-70°F (4-21°C) 的環境下。遠離氧化劑、酸、堿和火源。

操作與處置注意事項 (Handling & Disposal Considerations)

請查閱 MSDS(材料安全數據表)以了解操作方法和適當的個人防護設備 (PPE)。KLT 6000 含有易燃液體;遠離火源、熱源、火花和火焰。

KemLab 正性光刻膠 KLT 6000

 

 



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