無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀K化設(shè)計的特點,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。
非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;
高精度與寬量程&:垂直分辨率達納米級,可測厚度范圍從1nm至3mm;
多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。
立即詢價
您提交后,專屬客服將第一時間為您服務(wù)