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  • Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議

    Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎所發展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統接觸式探頭大...
    型號： F10-HC 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    測厚儀薄膜厚度測量儀Filmetrics白光干涉F10-HC
    2025/6/24 15:15:192782

  • Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議

    Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼...
    型號： F10-AR 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    薄膜厚度測量儀測厚儀FilmetricsF10-AR白光干涉
    2025/6/24 15:14:413169

  • Filmetrics 光學厚膜測厚儀 參考價：面議

    Filmetrics F3-sX 光學厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達到3毫米的眾多半導體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
    型號： F3-sX 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    測厚儀薄膜厚度測量filmetricsF3-SX白光干涉
    2025/6/24 14:59:162684

  • HORIBA 研究級橢圓偏振光譜儀 參考價：面議

    HORIBA UVISEL Plus 相位調制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設備，數據處理和高速單色儀，Fastacq技術能夠為用戶提供高分辨及快速的數據采集。...
    型號： UVISEL Pl... 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    HORIBAUVISEL Plus橢偏儀偏振光譜儀橢圓偏振光譜
    2025/6/24 14:55:182244

  • HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議

    HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜...
    型號： Smart SE 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    HORIBASmart SE多功能橢偏儀偏振光譜儀
    2025/6/24 14:51:562832

  • HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議

    HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄...
    型號： Auto SE 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    HORIBAAuto SE一鍵式全自動橢偏儀
    2025/6/24 14:48:532390

  • Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：面議

    Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結...
    型號： F40 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    薄膜厚度測量儀測厚儀白光干涉filmetricsF40
    2025/6/24 14:28:533750

  • Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價：面議

    Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，...
    型號： F50 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    測厚儀薄膜厚度測量儀F50白光干涉filmetrics
    2025/6/24 14:25:465685

  • Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：1

    Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450...
    型號： F54 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    薄膜厚度測量儀測厚儀filmetricsF54白光干涉
    2025/6/24 14:21:123833

  • Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：面議

    Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX...
    型號： F32 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    薄膜厚度測量儀光學膜厚儀F32filmetrics白光干涉
    2025/6/24 14:13:014003

  • Filmetrics 自動測量光學膜厚儀 參考價：面議

    Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
    型號： F54-XYT-3... 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀測量儀F54-XYT-300filmetrics白光干涉
    2025/6/24 14:03:391684

  • Filmetrics 自動光學膜厚測量儀 參考價：面議

    Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
    型號： F54-XY-20... 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀測量儀F54-XY-200filmetrics白光干涉
    2025/6/24 14:02:291732

  • Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價：面議

    Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
    型號： F20-UV/F2... 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    測厚儀薄膜厚度測量進口膜厚儀Filmetrics白光干涉
    2025/6/24 13:46:24598

  • KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議

    KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產品。從半導體制造到實現可穿戴技術所需的柔性電子產品，薄膜電阻監控對于任何使用導電薄膜的行業都相當重要。K...
    型號： R54 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    電阻率測量儀R54四探針電阻測量離子注入
    2025/6/24 13:37:441905

  • KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議

    KLA R50 四探針電阻率測繪系統是KLA電阻測試系列的產品。電阻測量和監控對于任何使用導電薄膜的行業都相當重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產品。...
    型號： R50 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    R50四探針電阻率電阻測量離子注入
    2025/6/24 13:35:051429

  • KLA 納米壓痕儀 參考價：59

    KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。該儀...
    型號： iNano 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    KLA納米壓痕儀iNano掃描探針顯微成像壓痕測試
    2025/6/24 13:28:581816

  • KLA 納米壓痕儀 參考價：59

    KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。...
    型號： iMicro 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    KLA納米壓痕儀iMicro納米力學測試探針顯微掃描
    2025/6/24 13:22:081653

  • Bowman XRF高精度鍍層測厚儀 參考價：面議

    Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通...
    型號： B系列 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    XRF熒光分析儀鍍層測厚分析儀金屬分析儀電鍍液分析儀元素分析儀
    2025/6/24 10:32:20775

  • Bowman XRF高精度鍍層測量儀 參考價：面議

    Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統，具備12英寸×12英寸的測量區域，適用于多種樣品檢測。
    型號： K系列 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    XRF熒光測量儀金屬測厚鍍層測厚元素分析電鍍液分析
    2025/6/24 10:27:11791

  • HORIBA 激光粒徑分布分析儀 參考價：面議

    HORIBA LA-960V2激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的設計傳統，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應用問題。
    型號： LA-960V2 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    粒度分析儀納米粒度分析激光衍射
    2025/6/4 15:07:211161

  • HORIBA 離心式納米粒度分析 參考價：面議

    HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀能實現對未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的高精度測量。顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的，這是離心分離法的關鍵特點。因此，...
    型號： CN-300 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    粒度分析儀納米分析
    2025/6/4 14:54:48327

  • HORIBA 納米顆粒分析儀 參考價：面議

    一臺簡潔小巧的裝置能同時實現對納米粒子三項參數的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。納米技術的研發是一個持續不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質以獲得新、好、優...
    型號： SZ-100V2 廠商性質：代理商所在地：上海市 對比
    粒度分析儀納米顆粒
    2025/6/4 14:46:54334

  • TABLE STABLE主動式隔震系統 防震臺 參考價：面議

    TABLE STABLE主動式隔震系統 防震臺 主動式減震方案，應用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動式隔震系統AVI-400可參照詳情
    型號： AVI-400 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    防震臺主動式隔震系統隔震系統TABLE STABLE
    2024/9/4 14:11:242941

  • HERZ TS系列 主動式隔震系統 防振臺 參考價：面議

    HERZ TS系列 主動式隔震系統 防振臺，主動式隔震系統創建一個穩定的測量環境。如需了解更多，咨詢。。。
    型號： 防震臺 廠商性質：代理商所在地：上海 對比
    防振臺隔震系統主動式隔震HERZ
    2024/8/8 10:41:415906
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