Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產品介紹：

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的測量點數量。此桌面系統只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產品特點優勢：

• 自動化薄膜厚度繪圖系統，快速定位、實時獲得結果；

• 可測樣品膜層：基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；

• 測繪結果可用2D或3D呈現，方便用戶從不同的角度檢視；

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀工業應用：

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀參數：

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀測量圖：