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Filmetrics F50 光學膜厚測量儀
選擇 Filmetrics 的優勢
• 嵌入式在線診斷
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果
免費現場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網絡上在線看到現場演示！請，我們的應用工程師會在電腦上為你演示薄膜測量是多么容易
自動化薄膜厚度繪圖系統
依靠 F50 的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得zui大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。 F50 系統配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保
能夠做成千上萬次測量。系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量。可測樣品包括：
氧化硅 氮化硅 類金剛石 DLC
光刻膠 聚合物 聚亞酰胺
多晶硅 非晶硅 硅
相關應用
半導體制造 液晶顯示器
• 光刻膠 • 盒厚
• 氧化物 • 聚酰亞胺
• 氮化物 • ITO
光學鍍層 生物醫學
• 硬涂層 • 聚對二甲苯
• 抗反射層 • 生物膜
• 濾光器 • 消化纖維
桌面式薄膜測厚儀 美國 Filmetrics F50 膜厚測量儀 桌面式薄膜測厚儀 美國 Filmetrics F50 膜厚測量儀 桌面式薄膜測厚儀
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