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完整型開爾文探針系統突破150年瓶頸，解決接觸電位差（CPD）來源模糊問題，精準分離樣品與探針電位。金網探針、法拉第籠助力高精度表面分析，重塑材料研究標準。
開爾文探針系統 Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數。 電化學開爾文探針系統專為直接測量與電解質接觸的電化學樣品...
開爾文探針系統 Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數。掃描開爾文探針系統可測量單點接觸電位差（CPD）并掃描整個...
開爾文探針系統 Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數。單點開爾文探系統，用于研究功函數，能夠精準測量樣品表面特定...
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