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分光熒光儀專為電化學樣品熒光研究設計，適用于固態(tài)和液態(tài)樣品的激發(fā)和發(fā)射光譜測量。搭載氙燈光源與雙單色儀，精確控制入射光強度和熒光發(fā)射。系統(tǒng)支持總熒光強度測量，光...

完整型開爾文探針系統(tǒng)突破150年瓶頸，解決接觸電位差（CPD）來源模糊問題，精準分離樣品與探針電位。金網(wǎng)探針、法拉第籠助力高精度表面分析，重塑材料研究標準。

IMPSIMVS 強度調(diào)制光電流光電壓光譜系統(tǒng)，專為測量載流子傳輸時間、重組速率等時間尺度設計，提供高精度時間分辨測量，深入分析光電效應中的關鍵過程，支持電化學...

阻抗分析儀是一款突破傳統(tǒng)的電化學阻抗測試儀器，具備全頻段同步采集與時間分辨功能，可實時觀測樣品阻抗隨時間演化，特別適用于鋰電池、電化學傳感器、光電材料等動態(tài)系統(tǒng)...

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數(shù)。 電化學開爾文探針系統(tǒng)專為直接測量與電解質(zhì)接觸的電化學樣品...

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數(shù)。掃描開爾文探針系統(tǒng)可測量單點接觸電位差（CPD）并掃描整個...

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測量半導體樣品表面的電子功函數(shù)。單點開爾文探系統(tǒng)，用于研究功函數(shù)，能夠精準測量樣品表面特定...

時間分辨熒光光譜儀 FPC-TDC 采用第一次光子計數(shù)法，特別適用于低熒光產(chǎn)率樣品的研究。系統(tǒng)通過激光脈沖激發(fā)樣品，測量熒光光子到達光電倍增管的飛行時間，從而重...

瞬態(tài)吸收光譜儀，專用于研究材料在激光激發(fā)下的量子態(tài)躍遷與退激過程。通過測量液體樣品對白光的吸收變化或固態(tài)樣品的反射信號，揭示其從激發(fā)態(tài)回到基態(tài)的動態(tài)行為。系統(tǒng)可...

量子效率測量系統(tǒng)專為太陽能電池及光電材料表征設計。配備單色儀、氙燈、鹵素燈與AM1.5G模擬光源，可覆蓋從紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）的波長范圍...

增強型光電化學（PEC） 測量系統(tǒng)，具備自動分析樣品光電特性。核心為雙入口單色儀：氙燈提供連續(xù)光譜（太陽模擬器），LED轉(zhuǎn)輪支持IMPS/IMVS與時間分辨研究...

微型光電化學（PEC） 測量系統(tǒng) ，集成恒電位儀、10波長LED旋轉(zhuǎn)器（紫外/可見/近紅外）、聚四氟乙烯電化學電池及Ag/AgCl參比電極、鉑對電極，支持雙/三...