X熒光臺式鍍層測厚儀

X熒光光譜臺式鍍層測厚儀：精準測厚，賦能多元行業

X熒光光譜臺式鍍層測厚儀是一款集先進技術與便捷操作于一體的高性能分析設備，在鍍層厚度測量領域發揮著關鍵作用。

工作原理與特性

該儀器基于X射線熒光原理，當高能X射線照射到樣品表面時，鍍層中的元素會被激發產生特征X熒光。通過精確分析這些熒光的能量和強度，即可準確計算出鍍層的厚度。它具有無損檢測的顯著優勢，無需破壞樣品，就能獲取可靠數據，極大降低了檢測成本和對樣品的損耗。同時，其測量速度快，能在短時間內完成對多個點的測量，大幅提升檢測效率。

精準測量能力

儀器具備好的測量精度和分辨率，可精確測量金屬及非金屬基體上各類鍍層的厚度，無論是單層鍍層還是復雜的多層鍍層結構，都能應對自如。測量范圍廣泛，從納米級到毫米級的鍍層厚度均可準確測定，滿足不同行業和應用的多樣化需求。

便捷操作與設計

采用臺式設計，結構緊湊，占用空間小，便于在實驗室或生產現場靈活安置。操作界面友好直觀，配備大尺寸彩色觸摸屏，操作人員無需復雜培訓即可輕松上手。儀器還具備自動校準和故障診斷功能，確保測量結果的準確性和穩定性，減少人為誤差和設備故障對檢測工作的影響。

廣泛應用領域

在電鍍行業，可幫助企業嚴格控制鍍層厚度，保證產品質量的一致性和穩定性；在電子制造領域，能精準測量電路板、芯片等微小元件上的鍍層厚度，確保電子產品的性能和可靠性；在五金、汽車、航空航天等行業，也廣泛應用于零部件的鍍層質量檢測，為產品研發、生產過程控制和質量控制提供有力的數據支持。

以下是深圳市天創美科技有限公司銷售的X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹：

鍍層檢測：

常見金屬鍍層有：

單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內，

可最小測量達0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%。

鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優勢：分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm

單層分析精度，以Ni舉例：（相對差值）

元素成分分析:

鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測，高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。

金屬成分分析，在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。

檢測精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達1ppm。

對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準：

A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5～5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1～0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1）精度(單層)：

                              測厚儀的檢測精度表

    測試方法: 在相同的操作條件下，對同一標準樣板進行5次檢測，檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差（平均誤差）

2）兩層及以上：

  兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果，但是第二層以上比較復雜，要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時，一層和二層的測試精度基本符合單層的精度，參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um，第二層鎳的標樣厚度為4.52um。

   在 一層厚度在2～5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度，第二層的誤差率會在5～10%，第三層的誤差率小于15%。

重復性:

保證重復性值:≤±5%

    重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續重復檢測，連續測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。

重復性=平均誤差÷平均值×100* %.

報告打?。?/span>

可以PDF，Excel格式輸出報告，歷史數據查詢方便

安全使用,維護與保養

由于儀器非常精密，未經允許情況請不要打開儀器外殼，不要對X射線源和探測器進行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。

儀器安裝一定要平穩，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標準的220V交流電，電壓不穩情況要配備穩壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。

請不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。

進行測量時，因為高電壓流至X射線源，儀器運行時，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。

儀器環境要求：儀器使用環境需清潔，溫度適宜15℃~30℃，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V。

以上細節均有可能造成無法預測后果，買方應予以基本遵守。

X熒光臺式鍍層測厚儀