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當(dāng)前位置：德國韋氏納米系統(tǒng)有限公司>>產(chǎn)品展示>>KLA/科磊
KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測試，包括壓痕、硬度、劃痕和...
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學(xué)測試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以...
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲基板和成品介質(zhì)提供了先進(jìn)的量測和檢測功能。隨著數(shù)據(jù)存儲制造商努力通過進(jìn)一步...
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測和成像功能，與集成防震臺和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測和成像功能，與集成式防震臺和靈活的配置相結(jié)合，可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...
全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專為滿足優(yōu)良金屬化工藝中對于細(xì)柵線、接觸墊和主柵線的測量需求而設(shè)計(jì)。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù)，以及最大...
KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀是一個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技...
KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀和 Profilm3D-200 光學(xué)輪廓儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，是一套非接觸式基于白光干...
KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙...
KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動(dòng)化輪廓儀，可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、...
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