循環測試-判定間歇性故障元器件更準確
采用無條件或有條件循環測試模式,能夠找到間歇性故障點和由溫度引起的故障,并顯示單個管腳的診斷信息.

英國abi-ChipMaster手持數字集成電路測試儀簡介:
可測元器件包含TTL系列,CMOS,存儲器,大規模集成電路,接口芯片以及其它多達40管腳的器件,不斷擴充的多達上千種元器件庫,元器件庫可以自行編程擴充升級.

特點：
·操作簡單方便
·內置元器件庫可擴充升級
·未知IC型號查找
·顯示單個管腳故障診斷信息
·元件代換查詢
·可選SOIC和PLCC適配座
·可選編程軟件與PC實時通訊測試
·電池與直流供電
·可以選擇不同封裝的測試座

英國abi-ChipMaster手持數字集成電路測試儀功能:
Single-對測試座上的IC進行單次測試.
Loop-無論結果如何,重復進行測試
P Loop-若測試結果為PASS,重復進行測試
F Loop-若測試結果為FAIL,重復進行測試
Search-識別測試座上IC的型號
Diags-進行自我診斷測試
CmLink-進入CompactLink 軟件通訊模式
Sw Off-將本儀器關機

專業的CompactLink編程通訊軟件(選配件)
可以擴充元件庫的編程軟件;
與PC實時通訊測試軟件;
允許用戶根據軟件增加新元器件庫,并產生新的功能測試,可以滿足特殊的應用;
軟件采用PremierLink IC編程(PLIP);
高水平的測試編程描述語言;
模擬和數字測試程序;
可通過RS-232或者USB接口連接電腦;

本軟件適合于ChipMaster和LinearMaster.