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德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第9年

18721247059

KLA/科磊
薄膜測(cè)量系統(tǒng)
微組裝系統(tǒng)
Deposition沉積系統(tǒng)
Megasonic Clean /兆聲清洗系統(tǒng)
測(cè)量?jī)x器
ECOPIA/韓國(guó)
Etching/等離子蝕刻系統(tǒng)
Thin Film薄膜沉積系統(tǒng)
美國(guó)杜邦Dupont
Ethcing/等離子蝕刻系統(tǒng)
Probe station/探針臺(tái)
紫外掩膜對(duì)準(zhǔn)曝光系統(tǒng)
快速退火爐
生命科學(xué)
PIE scientific/美國(guó)
JFP microtechnic/法國(guó)
OAI/美國(guó)
Unitemp/德國(guó)
NanoMagnetics/英國(guó)
Reflow Oven /回流焊
EXADDON
ANRIC
Tekeronix
SPS-POLOS
  • MPS 環(huán)氧樹脂芯片鍵合機(jī)

    MPS 環(huán)氧樹脂芯片鍵合機(jī)MPS 為芯片組裝和小型表面貼裝器件(SMD)放置提供了適配的平臺(tái)

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/25 15:53:22 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Semi-KLEEN Sapphire藍(lán)寶石等離子體清洗機(jī)

    關(guān)于Semi-KLEEN Sapphire藍(lán)寶石等離子體清洗機(jī)SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子體清洗機(jī)基于勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/25 13:00:47 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Tergeo桌面等離子清洗機(jī)

    Tergeo桌面等離子清洗機(jī)和蝕刻機(jī)專為研究、開發(fā)和小批量生產(chǎn)而量身定制。Tergeo系列桌面等離子清洗機(jī)在表面清洗、活化、有機(jī)污染物去除、粘合增強(qiáng)和光刻膠灰化...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:44:05 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機(jī)

    關(guān)于SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機(jī)SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子體清洗機(jī)基于勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的高效電感耦合等離...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:42:56 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Semi-KLEEN Quartz石英等離子體清洗機(jī)

    關(guān)于Semi-KLEEN Quartz石英等離子體清洗機(jī)SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子體清洗機(jī)基于勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的高效電...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:42:14 對(duì)比
    等離子體清洗機(jī)硅片清洗半導(dǎo)體污染去除
  • EM-KLEEN等離子體清洗機(jī)

    EM-KLEEN等離子體清洗機(jī)可用于電子顯微鏡和其他類型分析儀器(如 SEM、FIB、TEM、XPS 和西姆斯)的樣品和真空室的原位清潔。它可以有效地去除高真空...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:41:47 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Tergeo-EM TEM/SEM 等離子體清洗機(jī)

    Tergeo-EM TEM/SEM 等離子體清洗機(jī)專為研究、開發(fā)和小批量生產(chǎn)而量身定制。在表面清洗、活化、有機(jī)污染物去除、粘合增強(qiáng)和光刻膠灰化方面表現(xiàn)出色。其精...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:41:06 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Tergeo-Plus桌面等離子清洗機(jī)

    Tergeo-Plus桌面等離子清洗機(jī)和蝕刻機(jī)專為研究、開發(fā)和小批量生產(chǎn)而量身定制。Tergeo系列桌面等離子清洗機(jī)在表面清洗、活化、有機(jī)污染物去除、粘合增強(qiáng)和...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:39:33 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • TEM cube多用途樣品清潔及儲(chǔ)存腔室

    TEM cube多用途樣品清潔及儲(chǔ)存腔室可用于在高真空下存儲(chǔ)多達(dá) 8 個(gè) TEM 樣品架(極限真空在 10 -7 Torr 范圍內(nèi))。真空度足夠高,可以檢查原位...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:23:58 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • TEM 樣品架真空泵站

    TEM 樣品架真空泵站可在真空條件下存儲(chǔ)多達(dá)六個(gè) TEM 樣品架,以幫助樣品和樣品架放氣,去除水凝結(jié),并保持樣品和支架清潔。它還可用于試樣夾具座的泄漏檢查。

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:10:47 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Ion Source離子源

    關(guān)于Ion Source離子源等離子離子源 LMIS 和 GFIS 是三種常見的離子源類型。LMIS 和 GFIS 具有出色的源亮度。因此,它們被廣泛用于高分辨...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 16:05:59 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • Gas Mixers氣體混配器

    Gas Mixers氣體混配器用于 SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子源

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥100000更新時(shí)間:2025/6/24 15:53:07 對(duì)比
    等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
  • 高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

    ECOPIA公司的HMS系列高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀,霍爾效應(yīng)系統(tǒng),霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)主要由恒電流源、范德堡法則終端轉(zhuǎn)換器、低溫(77K)測(cè)量系統(tǒng)及磁場(chǎng)強(qiáng)度輸入系統(tǒng)組成...

    型號(hào): HMS-3300 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2025/5/9 17:10:44 對(duì)比
    霍爾效應(yīng)測(cè)試儀高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
  • KLA Candela® 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    KLA Candela® 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)第二代集成式光致發(fā)光和表面檢測(cè)系統(tǒng),設(shè)計(jì)用于對(duì)碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進(jìn)行高級(jí)表征。采用統(tǒng)計(jì)制...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/5/9 17:04:12 對(duì)比
    KLACandela® 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓表面檢測(cè)晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)晶圓光學(xué)檢測(cè)
  • KLA Candela® 8420表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    KLA Candela® 8420表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)它使用多通道檢測(cè)和基于規(guī)則的缺陷分類,對(duì)不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦、鉭酸鋰、鈮酸鋰、...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/5/9 17:03:58 對(duì)比
    KLA Candela® 8420表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)晶圓光學(xué)檢測(cè)
  • KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀

    KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測(cè)量幾納米到1200微米高的2D臺(tái)階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對(duì)粗糙度、彎曲度和應(yīng)力...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/17 10:32:02 對(duì)比
    Alpha-Step®D-500KLA-Tencor探針式輪廓儀臺(tái)階儀接觸式輪廓儀
  • KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀

    KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/17 10:30:38 對(duì)比
    KLAP-17探針式輪廓儀臺(tái)階儀粗糙度測(cè)量
  • KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀

    半導(dǎo)體薄膜生長(zhǎng)表面檢測(cè)KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/17 10:27:03 對(duì)比
    科磊探針式輪廓儀Alpha-Step® D-600kla半導(dǎo)體表面測(cè)量
  • KLA Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x

    KLA Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y(cè)量工具,實(shí)現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測(cè)量。該設(shè)備配備集成彩色攝像機(jī),可在1秒內(nèi)完成...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/10 7:59:43 對(duì)比
    KLA Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F40白光干涉測(cè)厚儀
  • KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x

    KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)控沉積過(guò)程,提供高精度、快速且非侵入式的測(cè)量解決方案,適用于多種半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料。其主要特點(diǎn)包括提...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/10 7:53:14 對(duì)比
    KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)

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