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德國韋氏納米系統有限公司
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KLA/科磊
薄膜測量系統
微組裝系統
Deposition沉積系統
Megasonic Clean /兆聲清洗系統
測量儀器
ECOPIA/韓國
Etching/等離子蝕刻系統
Thin Film薄膜沉積系統
美國杜邦Dupont
Ethcing/等離子蝕刻系統
Probe station/探針臺
紫外掩膜對準曝光系統
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Reflow Oven /回流焊
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  • KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀

    KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列,涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm,能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:42:31 對比
    KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀F3-sX薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F3-sX
  • KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統

    KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統專為微小視野及樣品設計,支持快速、簡易的厚度測量,適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動校正功能,可...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:34:59 對比
    KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統快速厚度測量系統薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀F3-CS快速厚度測量系統
  • KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀

    KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,實現真空鍍膜的快速、精確分析。該設備價格合理,具備分析、FWHM確定及顏色分...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:28:14 對比
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量
  • KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀

    KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設計的儀器,基于F20平臺,采用光譜反射分析技術,提供快速準確的測量結果。...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:21:12 對比
    Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀汽車薄膜厚度測量白光干涉測厚儀F10-HC薄膜厚度測量儀
  • KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統

    KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統;經濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:12:59 對比
    Filmetrics F20Filmetrics F20白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀臺式薄膜厚度測量系統
  • KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀

    KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 7:02:14 對比
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  • KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀

    KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘...

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  • KLA NanoFlip納米壓痕儀

    KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下,準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 2:30:38 對比
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  • KLA iNano®納米壓痕儀

    KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準確、靈活、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學測試,包括壓痕、硬度、劃痕和...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 2:05:23 對比
    KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
  • KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

    KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學測試工具,可快速提供精確的定量分析結果。G200X系統可處理從硬質...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/10 1:49:48 對比
    KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導體劃痕壓痕測量
  • KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統

    KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統為硬盤驅動器基板和介質提供了高級缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅動器缺陷檢測和分類系統以...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/9 23:09:27 對比
    KLA Candela® 7100缺陷檢測分類系統晶圓缺陷檢測和分類系統晶圓缺陷檢測系統晶圓分類系統半導體缺陷檢測和分類系統
  • KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統

    KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統為金屬或玻璃數據存儲基板和成品介質提供了先進的量測和檢測功能。隨著數據存儲制造商努力通過進一步...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/9 22:57:56 對比
    KLA Candela® 6300光學表面分析儀系統光學表面分析儀系統光學表面缺陷表面缺陷檢測光學檢測儀
  • KLA Zeta™-388光學輪廓儀

    KLA Zeta™-388光學輪廓儀提供3D量測和成像功能,與集成防震臺和晶圓操作系統結合,可實現全自動測量。該系統采用ZDot™ 技術...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/9 20:00:22 對比
    KLA Zeta™-388光學輪廓儀臺階儀輪廓儀光學輪廓儀kla輪廓儀
  • KLA Zeta™-300光學輪廓儀

    KLA Zeta™-300光學輪廓儀可提供3D 量測和成像功能,與集成式防震臺和靈活的配置相結合,可以處理更大的樣品。該系統采用ZDot&trade...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/9 19:53:24 對比
    KLA Zeta™-300光學輪廓儀Zeta™-300光學輪廓儀光學輪廓儀白光干涉儀粗糙度儀
  • KLA Zeta™-Solar光學輪廓儀

    全新的KLA Zeta™-Solar光學輪廓儀專為滿足優良金屬化工藝中對于細柵線、接觸墊和主柵線的測量需求而設計。更為優良的3D 成像技術,以及最大...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/7 15:39:58 對比
    KLA Zeta™-Solar光學輪廓儀eta™-Solar光學輪廓儀光學輪廓儀輪廓儀白光干涉儀
  • KLA Zeta™-20光學輪廓儀

    KLA Zeta™-20光學輪廓儀是一個高度集成的光學輪廓顯微鏡,可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™ 技...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/7 15:12:45 對比
    KLA Zeta™-20光學輪廓儀白光干涉儀KLA光學輪廓儀非接觸式輪廓儀
  • KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學輪廓儀

    KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學輪廓儀和 Profilm3D-200 光學輪廓儀經濟實惠,是一套非接觸式基于白光干...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/7 14:50:31 對比
    KLA Filmetrics® Profilm3D®光學輪廓儀光學表面分析儀Profilm3D® 光學輪廓儀白光干涉儀
  • KLA HRP®-260 探針式輪廓儀

    KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個高分辨率、自動化探針式輪廓儀,提供從幾納米到 300 微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/7 14:40:10 對比
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  • KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀

    KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動化輪廓儀,可為生產環節提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、...

    型號: 所在地:香港特別行政區參考價: ¥50000更新時間:2025/3/7 14:32:42 對比
    KLATencor® P-170 探針式輪廓儀Tencor® P-170探針式輪廓儀輪廓儀
  • 薄膜反射儀

    薄膜反射儀是一款相對較低成本和操作簡單的工具。基于陣列的探測器系統保證快速測量,可升級到MSP(顯微分光光度計)系統,SRM映射系統,多通道系統,大點的...

    型號: SR系列 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/6/17 16:55:47 對比
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